王子計測超高位相差測定裝置

產品介紹

王子計測超高位相差測定裝置

PAM-UHR100

特點

① 1nm寬測量范圍

② 高重復精度±1nm

③ 良好的可操作性

④ 軟件

測定對象：

位相差薄膜，塑料，偏振片

光盤

液晶組件

磁帶用膠片

收縮薄膜

其他一般用途膠片

用途：

光學功能膠片的研究開發(fā)，質量管理

延伸膠片的定向評價(三維折射率，表面定向度)

包裝膜的熱收縮、撕脫性等的評價

液晶元件的雙絞線波長色散特性評估

光學器件的透射橢圓偏振光的評價

王子計測PAM-UHR100超高位相差測定裝置

技術參數(shù)

仕様	內容
測定対象	透明な延伸フィルム（ＰＣ，ＰＥＴ等）
測定項目	位相差、配向角、複屈折（位相差範囲約８００～２００００ｎｍ）
試料寸法	□４０ｍｍ厚み３ｍｍ以下
システム構成	測定裝置本體、ノートパソコン（OS：Windows 7 / Vista / XP）
溫濕度條件	10～35℃、20～80％ＲＨ（ただし結露しないこと）
電源	AC100V±10％、50／60Hz