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產(chǎn)品詳細頁
王子計測光學(xué)軸測定裝置

王子計測光學(xué)軸測定裝置

產(chǎn)品介紹

王子計測光學(xué)軸測定裝置   

PAM-PR300

 

產(chǎn)品規(guī)格

測定項目

偏光軸方位、配向角、位相差

測定對象

光學(xué)薄膜、偏光板

測定原理

旋轉(zhuǎn)光子法、平行尼科爾旋轉(zhuǎn)法、正交尼科爾旋轉(zhuǎn)法

測定時間

約4秒(偏光軸測定)

測定波長

590nm(可選450nm,630nm等)

樣品尺寸

30mm250mm,t=20mm以下

系統(tǒng)配置

測定裝置本體,光源裝置,電腦

儀器尺寸

W380 ×H390 ×D610 mm

儀器重量

27kg

 

王子計測光學(xué)軸測定裝置 

測量原理和精度

 

偏光軸方位測定

位相差測定

測定方式

旋轉(zhuǎn)光子法

平行尼科爾旋轉(zhuǎn)法

測定項目

吸收軸方位

透過軸方位

位相差值、配向角

構(gòu)成

 

 

角度分解能

0.001°

0.001°

角度精度( 3σ)

0.006°

0.017°

位相差分解能

N/A

0.01nm

位相差精度( 3σ)

N/A

0.03nm

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